ヱビナ電化工業

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受託分析事業を開始致しました。

御社の観察・解析・分析は充分でしょうか?

弊社コア事業の『めっき技術』により磨かれた分析解析能力を用いて、『受託分析』事業を立ち上げました。

SEM(走査型電子顕微鏡)/FE-SEM(電界放出型走査型電子顕微鏡)

試料表面の凹凸を数万倍まで拡大して観察が可能です。

例えば、50000倍では、下の様な写真を撮影できます。

めっき前ステンレス材(左)とめっき後ステンレス材(右)。共に50000倍

 

EDX(エネルギー分散型X線分析装置)
周期表におけるB(ホウ素)~U(ウラン)までの元素分析が可能です。
試料表面の元素の定性・定量ができます。

ご満足頂ける結果を最短時間で報告可能としています。

観察・解析・分析について、ご相談ください。

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2013-02-15
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