ヱビナ電化工業

最先端R&Dで業界をリードする次世代表面処理のパイオニア

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分析・解析装置

業界屈指の最先端分析・解析装置を配備し、めっきプロセスの液分析管理、素材・めっきサンプルの表面分析・試験評価を行い、試作・量産の品質の安定化とソリューションを展開しております。

表面分析

機器名
蛍光X線式膜厚計
デジタルマイクロスコープ
走査型電子顕微鏡(SEM) 
電界放出型走査型電子顕微鏡(FE-SEM)
エネルギー分散型X線分析装置(EDS)
表面形状粗さ測定器(レーザー式)
カラーレーザー顕微鏡
原子間力顕微鏡(AFM)
測定顕微鏡
分光光度計(固体測定用)
Arイオンビームクロスセッションポリッシャー(CP)
X線光電子分光(XPS ESCA)
X線回折(XRD)
示差走査熱量計(DSC)
インピーダンス測定装置

液分析

機器名
原子吸光分光光度計(AAS)
誘導結合プラズマ発光分析装置(ICP-OES)
高速液体クロマトグラフィー(HPLC)
イオンクロマトグラフィー(IC)
高性能キャピラリー電気泳動分析装置(HPCE)
分光光度計(UV-Vis)
サイクリックボルタンメトリーストリッピング(CVS)
ポーラログラフ
自動滴定装置(AT)
界面活性剤滴定装置
表面張力計

試験・評価

機器名
引張強度試験機
超微小押し込み硬度計
温湿度冷熱サイクル試験機
冷熱衝撃試験機
恒温恒湿試験機
超加速寿命試験装置
塩水噴霧試験装置
CASS試験装置
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