表面分析・解析
走査型電子顕微鏡(汎用SEM)＋EDX
電子線を試料に照射すると二次電子・反射電子・特性X線などが放出されます。内、二次電子は、表面から～数十nmの深さからしか放出されないため、細く絞った電子線で試料を走査し、その二次電子を検出することで、微細表面形状の観察が可能です。被めっき素材や、めっき皮膜の観察、エネルギー分散型X線分析装置(EDX)を搭載しているため、B～Uの定性・定量分析も可能です。
電界放出型走査型電子顕微鏡(FE-SEM)
電解放出型電子銃は輝度が高く、且つ電子線をより細く絞ることが可能なため、汎用SEM(熱電子型)と比べ、低加速電圧で高分解能が得られます。10万倍以上の観察が可能で、数nmレベルでの素材表面やめっき皮膜の観察に使用しています。また、この装置にもEDXを搭載しており、高倍率での組成分析、マッピングが可能です。
電子プローブＸ線マイクロアナライザ(EPMA)
電子線を試料に照射した際に発生する特性X線の波長と強度から、構成元素を分析する装置です。EDXよりも分解能にすぐれているため、高い精度が求められる元素分析で使用しています。
X線光電子分光分析装置（XPS）
真空中でX線を物質に照射すると、光電子が発生します。光電子のエネルギーを解析することで定性や定量が可能です。 深部から発生する光電子は表面に到達するまでに吸収されてしまうため、表面から数十A程度といった表面分析が可能。各処理による素材やめっき皮膜表面の状態分析が可能です。
X線回折装置(XRD)
X線を物質に照射すると散乱X線・蛍光X線・透過X線などが観測されます。散乱X線において、ブラッグの条件を満たすと回折現象を示し回折線が観測されます。この回折線は結晶固有のものなので測定対象の結晶状態を知ることができます。当社では被めっき素材やめっき皮膜の結晶状態を確認しています。
蛍光X線微小部膜厚計
数十μｍ程度の非常に小さなスポットにエックス線を照射し、発生する蛍光エックス線のエネルギーと強度を分析します。 非破壊で、めっき膜の厚みを測定することが可能です。 高感度比例計数管、半導体検出器の2タイプを設置していますので、仕様によって選択しより信頼性の高いデータを提出します。
グロー放電発光分光分析装置（ＧＤＳ）
アルゴンプラズマで試料をスパッタして、構成原子を原子発光させます。 この光を分光分析することで、短時間で厚さ方向の組成分析が可能です。 広い面積の平均データが得られます。 軽元素も測定可能で、各種合金めっきにおける深さ方向での組成分布の測定などに使用しています。
クロスセクション・ポリッシャー(CP)
アルゴンイオンビームにより、加工歪みがなく結晶コントラストが明瞭な鏡面の断面を作製します。一度に数百μｍ領域の加工が可能です。電子顕微鏡観察に適した断面サンプル作製を可能とし、より精細な断面構造確認が可能です。 EDX併用することで、多層皮膜、合金皮膜の状態確認も可能です。
原子間力顕微鏡（AFM）
試料表面を微小な探針(プローブ)で走査することによって三次元形状を高倍率で観察が可能です。SEMでは確認できなかった微小凹凸の観察、深さ方向の側長や粗さがnmオーダーで可能です。 平滑なめっき素材やめっき初期析出状態の観察などが可能です。
示差走査熱量計(DSC)
測定試料と基準物質の間の熱量の差を計測し、物質の融点などが解析できます。主に、はんだめっきの融点を確認し、安定した品質を保証しています。
分光光度計
単色光を試料に照射し、透過した光の量を吸光度として測定、標準試料との比較によって定量分析が可能となります。 また、固体試料の透過、反射測定から測定が可能となり、当社では主に黒色めっきや光沢めっきの反射率測定にも活躍しています。
非接触断面粗さ測定装置
表面をレーザー光により走査することで、非破壊で広範囲にわたる断面形状、表面粗さ、また段差測定などを用いることでめっき膜厚などの測定が可能です。
デジタルマイクロスコープ
最新タイプを定期的に導入しています。 観察と結果の記録を目的とて使用しており、超高解像度画像によって被めっき素材、めっき皮膜を観察しています。
これらの装置を駆使し、各素材に適しためっき処理を実現。
また、難めっき素材、新材料などへのめっき、新めっき秘術の開発を可能としています。
更に、要求にあった項目に対して解析、データ化することで、安定した品質も保証します。
液分析・測定
原子吸光分析装置(AAS)
溶液試料を高温中で原子化し、そこに光を透過して吸収スペクトルから元素の同定および定量を行うもので、処理液から排水中まで種々の微量金属元素の定量を行っています。
高周波プラズマ発光分光分析装置(ICP)
プラズマにより、溶液試料を原子化・励起させ、これが基底状態に戻る際の発光スペクトルから元素の同定・定量を行うもので、処理液から排水中まで種々の微量元素の定性・定量を行っています。
高性能キャピラリー電気泳動分析装置
イオン等の荷電物質を含む溶液を、キャピラリー(細い管：内径～100μm）に充填し、両端に高電圧を印加することにより電気泳動現象を生じさせます。分光検出器によって得られたシグナルを、泳動移動度でピークごとに分離、その面積を比較することで、各種イオン、特に有機酸等の定性定量分析が可能です。
イオンクロマトグラフィー分析装置
イオン交換樹脂に対するイオンの吸着力の差を利用して、イオンや電荷をもつ分子の分離・定量を行なう装置で、主に無機イオンの測定を行っています。
自動滴定分析装置
滴定によって生じる対象溶液の電位変化を追跡し、目的物質の濃度を決定します。対象に適切な前処理や電極、滴定液種や濃度を選択することで、さまざまな測定が可能です。滴定の種類として中和、酸化還元、キレート、沈殿滴定があります。
ポーラログラフ分析装置
電気化学測定法のひとつで、金属イオン，陰イオンなどを検出定量することが可能です。特に、めっき液中の重金属の定量などに利用しています。
CVS分析装置
電気化学測定法のひとつであるCVS（サイクリックボルタンメトリーストリッピング）法によりめっき液中の有機添加物の濃度を測定しています。
電気化学インピーダンス測定装置
電気化学測定の一種で、インピーダンスとは交流の抵抗のことです。 通常の直流による測定方法では得られない電極界面や電気二重層の現象、界面反応機構の解析に対し、交流信号を印加することで知見を得る方法です。
試験・評価
超微小押し込み硬さ試験機
ダイヤモンド圧子による押し込みの挙動を解析することで、対象物の硬さや弾性等を測定します。被めっき素材やめっき皮膜の硬度を評価しており、極薄膜、微小部でも高精度に測定が可能である為、薄膜で機能を発揮するめっき皮膜の評価には欠かせません。
引っ張り強度試験機
被めっき素材とめっき皮膜との密着強度評価として使用しています。引っ張り強度は主にプル強度(垂直引っ張り)とピール強度測定試験を行っています。
プレッシャークッカー(超加速寿命)試験機
環境試験の一つで、100℃以上の高温・高湿・高圧力下に一定時間さらすことで、対象物の耐湿評価を短時間で行うために使用されます。 吸湿性のある被めっき基材へのめっき仕様において評価・確認し高品質めっきの実現、あるいは品質管理項目として使用しています。
冷熱衝撃(サーマルショック)試験機
対象物を高温-低温と短時間で交互に繰り返し与え、温度変化による膨張率の差から、めっき皮膜のクラックや剥がれ等生じないか等の試験を行っています。特に、樹脂素材に金属皮膜を形成させた場合、膨張率の差が大きい為、重要な試験となっています。